Группа исследователей, работающая в одном из японских университетов, представила разработку в области твердотельных накопителей. Исследователи показали, что за сжатия данных и изменений в способе записи можно существенно повысить надежность накопителей, скомпенсировав уменьшение количества циклов записи-стирания и увеличив время хранения.
Суть разработки заключается в сочетании двух приемов.
Во-первых, контроллер сжимает данные по алгоритму Хаффмана, за счет чего уменьшается объем записываемых данных.
Во-вторых, часто встречающиеся последовательности, которым соответствуют короткие коды, записываются в высоконадежные состояния памяти, а последовательности, встречающиеся редко, которым соответствуют длинные коды, записываются как обычно.
Высоконадежные состояния достигаются использованием ячейки TLC, обычно принимающей одно из восьми состояний, для хранения одного из семи или даже шести значений. Конечно, при этом уменьшается информационная емкость, но увеличение шага напряжения между состояниями значительно увеличивает надежность и время хранения.
Источник: Nikkei BP
