Исследователи из Института физики микроструктур Макса Планка и Технологического университета Дортмунда, Германия, разработали уникальную технологию съемки, позволяющую получить четкое трехмерное голографическое изображение внутренних сегментов сложных молекулярных структур с уровнем детализации до отдельных атомов. Все существующие и широко распространенные до этого момента методы съемки, включая сканирующую туннельную микроскопию, позволяли получать картинку, детализированную до уровня поверхности молекул. Расширение практических возможностей съемки с настолько высокой степенью детализации открывает беспрецедентные возможности для изучения химических и физических свойств, как существующих, так и перспективных материалов.
