Т.к. предыдущая статья вызвала интерес, то, как я и обещал, в этой статье будут рассмотрены примеры работы с семисегментными индикаторами, встроенным АЦП, а также произведена сборка программного проекта цифрового термометра на ATmega16 из нескольких рассмотренных в данной и предыдущей статье примеров работы с внутренними периферийными блоками микроконтроллера ATmega16.
Читать полностью »
В этой статье мы поделимся практическим опытом в использовании периферийного (граничного) сканирования JTAG и расскажем про особенности и преимущества внедрения этой технологии на этапе тестирования опытных образцов. Особое внимание будет уделено типичным ошибкам, выявленным с помощью JTAG с использованием программного пакета Provision для тестирования различных узлов и микросхем платы.
Напомним, что периферийное сканирование (boundary scan) — это структурное тестирование печатной платы с установленными компонентами, которое основано на применении стандартов IEEE 1149.x. Результат сканирования — информация о наличии в электроцепях типичных неисправностей, возникающих в процессе производства печатных плат: коротких замыканий (bridges), непропаек (opens), западаний на 0 или 1 (stuck at 0, stuck at 1), обрывов дорожек.Читать полностью »
Продолжая тему практического применения микросхемы FTDI FT232H, затронутую мной в предыдущей статье, хотелось бы рассказать об использовании отладочной платы на ней в качестве дешевого и почти универсального JTAG-адаптера с интерфейсом USB и поддержкой множества микроконтроллеров различных архитектур и производителей. Я намеренно не называю этот адаптер «JTAG-отладчиком», т.к. далеко не все устройства с JTAG TAP поддерживают отладку, но обычными пользователями JTAG-адаптер используется в большинстве случаев именно для прошивки и отладки своего кода на МК. В этой статье я опишу только собственный опыт использования FT232H в качестве JTAG-адаптера, чтобы не давать ссылок на непроверенные решения, поэтому предлагаю читателям поделиться своими (или чужими) способами использования этой микросхемы в комментариях. Уверен, что способов этих найдется намного больше, чем здесь описано.
Заинтересовавшихся прошу под кат.
Читать полностью »
Многие знакомы со словом «JTAG», но знакомство это скорее всего поверхностное. В этой статье я хочу перевести Вас на новый уровень, так сказать «во френдзону». Возможно, для многих я не открою ничего нового, но надеюсь тем, кто давно хотел ознакомиться, будет интересно почитать. Итак, от винта.
Финальный этап создания электронного продукта — серийное производство, именно оно в конечном итоге определяет качество устройства. Пользователь не сможет оценить идеальную программную и аппаратную платформу новой электроники, если на сборочном конвейере произойдет сбой, поэтому контроль функциональности и тестирование сборки — обязательные этапы массового производства.
Читатели этой статьи познакомятся с основными методиками и задачами тестирования электронных устройств и получат общее понимание обеспечения качества на производстве. Особое внимание будет уделено достоинствам и недостаткам различных методов тестирования.
Читать полностью »
